[发明专利]可光学检测探漏气体的探漏器有效
| 申请号： | 201180015156.1 | 申请日： | 2011-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN102859341A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 弗拉基米尔·史华兹;丹尼尔·温特兹哥;鲍里斯·查洛博布洛德 | 申请（专利权）人： | 英福康有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20;G01M3/38 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 一种探漏器，包括一设置有探漏气体入口的元件，该探漏气体入口优选地允许一探漏气体透过。在所述元件中，所述探漏气体被激发进入一高能亚稳态。通过激光光谱法所述亚稳态探漏气体的吸收光谱在一光学测量部中被取样，借此检测探漏气体的出现。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 漏气 探漏器 | ||
【主权项】：
一种可光学检测探漏气体的探漏器，包括：‑一具有气体入口（12）的元件（10），所述入口（12）包括一优选允许探漏气体透过的薄膜（13）；‑一激发装置（25），所述激发装置（25）位于所述元件（10）中，以用于激发所述探漏气体进入一高能亚稳态，以及‑一光学测量部（14），所述测量部（14）由一激光器（15）以及一用于接收激光束的光探测器（16）组成。
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