[发明专利]样本分析装置有效
| 申请号： | 201180015960.X | 申请日： | 2011-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN102812364A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 泉幸庆;堤田惠介;水本徹;中岛真也;藤本浩司 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社;爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/02 | 分类号： | G01N35/02;G01N35/04 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种比以往的装置更加小型化的样本分析装置。样本分析装置1具有：用于测定样本的第一测定装置11和第二测定装置12、运送样架50的运送装置20。第二测定装置12配置在第一测定装置11的运送方向的下游一侧。运送装置20设有向第一测定装置11供应样本的第一供应位置26a、以及向第二测定装置12供应样本的第二供应位置26b。第一测定装置11的CPU111a根据位于第二供应位置26b的样本的处理情况控制位于第一供应位置26a的样本的运送。以此，位于第二供应位置26b的样本不会在不注意的情况下被运送。因此，第一供应位置26a和第二供应位置26b之间不必设置用于使样架50停留的区域，从而得以使样本分析装置1小型化。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种运送样本并分析样本的样本分析装置，其特征在于：所述样本分析装置包括：用于测定样本的第一测定装置；配置在所述第一测定装置的运送方向的下游一侧，用于测定样本的第二测定装置；向给所述第一测定装置供应样本的第一供应位置和给所述第二测定装置供应样本的第二供应位置运送样本的运送装置；根据位于所述第二供应位置的样本的处理情况，控制位于所述第一供应位置的样本的运送的控制部件。
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