[发明专利]掩模坯料用基板的制造方法、掩模坯料的制造方法、转印用掩模的制造方法以及半导体器件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201180016169.0 申请日: 2011-03-29
公开(公告)号: CN102822743A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 田边胜 申请(专利权)人: HOYA株式会社
主分类号: G03F1/60 分类号: G03F1/60;G03F1/44;G03F1/56
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李伟;舒艳君
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 通过模拟来计算出设置在曝光装置时的透光性基板的表面形状,当对带抗蚀剂膜的掩模坯料描绘转印图案时,利用表面形状的模拟结果来修正转印图案,并描绘修正后的转印图案。在模拟工序中,基于透光性基板的表面形态、材质以及尺寸、和包括与透光性基板的主表面抵接的区域的掩模台的形状信息,对在曝光装置上设置了透光性基板时的多个上述测量点的距离基准面的高度信息进行模拟,使通过模拟工序得到的多个上述测量点的距离基准面的高度信息与4次、5次或者6次曲面近似,并将表示所得到的近似曲面的多项式的各项的系数、即系数信息与透光性基板对应存储。
搜索关键词: 坯料 用基板 制造 方法 转印用掩模 以及 半导体器件
【主权项】:
一种掩模坯料用基板的制造方法,其特征在于,具有:准备工序,准备主表面被精密研磨了的透光性基板;形状测量工序,对设定在主表面的实测区域内的多个测量点分别测量以基准面为基准的主表面的高度信息,来获取吸附前主表面形状;模拟工序,通过模拟来获得在曝光装置的掩模台上吸附了所述透光性基板时的所述多个测量点的以所述基准面为基准的主表面的高度信息、即吸附后主表面形状;近似曲面计算工序,基于所述吸附后主表面形状,计算出近似曲面;和记录工序,将所述近似曲面的信息与所述透光性基板对应记录于记录装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180016169.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top