[发明专利]光学相干断层图像摄像设备及其控制设备无效
| 申请号： | 201180016964.X | 申请日： | 2011-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN102843958A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 末平信人;坂川幸雄;吉田拓史 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | A61B3/12 | 分类号： | A61B3/12;G01B9/00;G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种断层图像摄像设备，用于根据多个干涉光束的信号获取被检物的断层图像或截面图像，其中所述多个干涉光束是通过向所述被检物照射多个测量光束并使所述测量光束的返回光束干涉参考光束所获得的，所述断层图像摄像设备包括：传感器，用于检测所述多个干涉光束以获取所述多个干涉光束的信号；获取单元，用于获取所述断层图像摄像设备内的与所述多个干涉光束各自相对应的光学特性；以及生成单元，用于基于所述多个干涉光束的信号和所述光学特性来生成所述被检物的断层图像或截面图像。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 断层 图像 摄像 设备 及其 控制 | ||
【主权项】：
一种断层图像摄像设备，用于根据多个干涉光束的信号获取被检物的断层图像或截面图像，其中所述多个干涉光束是通过向所述被检物照射多个测量光束并使所述测量光束的返回光束与参考光束干涉所获得的，所述断层图像摄像设备包括：传感器，用于检测所述多个干涉光束以获取所述多个干涉光束的信号；获取部件，用于获取所述断层图像摄像设备内的与所述多个干涉光束各自相对应的光学特性；以及生成部件，用于基于所述多个干涉光束的信号和所述光学特性来生成所述被检物的断层图像或截面图像。
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