[发明专利]使用力印记来确定质量认可规范的方法

摘要

本发明提供了一种方法以使用来第一和第二元件集合上测得的力印记来确定质量认可标准。第一集合不具有质量缺陷且第二集合具有故意的质量缺陷。基于在两个集合中的力印记上的力数据的统计学分析进行初始时间点子集的选择。质量认可标准包括使用马氏距离（MD）值建立的质量阈值，且MD值是从为两个集合中每一个元件所选择的初始时间点子集处的力数据所产生的。所确定的质量认可标准的输出是使用所定义的质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有类似故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

主权项

一种为在元件上产生的力印记而确定质量认可规范的方法，所述方法包括：提供不具有质量缺陷的第一元件集合和具有故意的质量缺陷的第二元件集合；提供压力装置，来产生将被施加至所述两个元件集合中每一个集合中的每一个元件的力，从而为所述两个元件集合中每一个集合中的每一个元件产生力印记；提供被设置于数据处理设备的存储器中的马氏距离（MD）算法；为所述第一和所述第二集合中的每一个元件测量由所述压力装置产生的具有力数据的力印记，在时间范围上的多个时间点处测得每一个力印记从而为第一和第二元件集合产生各自对应的第一和第二族力印记；统计地分析所述各自对应的第一和第二族力印记，来在所述时间范围上的多个时间点中的每一个时间点处在所述各自对应的第一和第二族中的所测得的所述力印记上建立预定统计；基于统计地分析所述各自对应的第一和第二族力印记的步骤，从所述多个时间点选择初始时间点子集；通过输入在所述初始时间点子集处的与所述第一和第二集合中每一个元件相关联的所述力数据，使用MD算法，对所述第一和第二集合中每一个元件各自产生单个马氏距离（MD）值，为所述第一集合的元件产生的MD值形成第一MD值组且为所述第二集合的元件产生的MD值形成第二MD值组；估算所述第一MD值组的第一数据分布比照所述第二MD值组的数据的第二部分，所述第一第二MD值组形成具有相应初始优化度量值的初始质量度量MD族组；使用在所述相应时间点子集处的初始质量度量MD族组，定义初始质量阈值为质量认可规范，其中确定所述质量认可规范的输出是使用所述所定义的初始质量阈值来分类具有所述力印记的所述元件至如下中的一个分类，(i)不具有质量缺陷的元件组，和(ii)具有像所述故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。