[发明专利]外延基板以及外延基板的制造方法无效

专利信息
申请号: 201180020582.4 申请日: 2011-04-15
公开(公告)号: CN102859653A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 三好实人;角谷茂明;市村干也;前原宗太;田中光浩 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;C30B29/38;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812
代理公司: 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 代理人: 杨勇;洪玉姬
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种外延基板,其将硅基板作为基底基板,无裂纹且耐电压性优良。其在作为(111)取向的单晶硅的基底基板之上,以使(0001)结晶面与所述基底基板的基板面大致平行的方式形成有III族氮化物层组,其具有:缓冲层,其具备多个第一层叠单位,该第一层叠单位包括:组分调制层,其交替层叠由A1N构成的第一组分层和由AlxGa1-xN(0≤x<1)组分的III族氮化物构成的第二组分层而成;第一中间层,其由AlyGa1-yN(0≤y<1)组分的III族氮化物构成。当将第一组分层和第二组分层的层叠数分别设为n(n为2以上的自然数),且将从基底基板侧开始第i个第二组分层的x值设为x(i)时,如下:x(1)≥x(2)≥···≥x(n-1)≥x(n)且x(1)>x(n),且第二组分层相对于第一组分层呈共格状态,第一中间层相对于组分调制层呈共格状态。
搜索关键词: 外延 以及 制造 方法
【主权项】:
一种外延基板,在作为(111)取向的单晶硅的基底基板之上,以使(0001)结晶面与所述基底基板的基板面大致平行的方式形成有III族氮化物层组,其特征在于,所述外延基板包括:缓冲层,其具备多个第一层叠单位,结晶层,形成在所述缓冲层上;所述第一层叠单位包括:组分调制层,其通过交替层叠由AlN构成的第一组分层和由AlxGa1‑xN组分的III族氮化物构成的第二组分层而构成,其中x满足0≤x<1,第一中间层,其由AlyGa1‑yN组分的III族氮化物构成,其中y满足0≤y<1;各所述组分调制层中,当将所述第一组分层和所述第二组分层的层叠数分别设为n,且将从所述基底基板侧开始的第i个所述第二组分层的x值设为x(i)时,以x(1)≥x(2)≥···≥x(n‑1)≥x(n)且,x(1)>x(n)的方式形成,且在各所述组分调制层中,各所述第二组分层相对于所述第一组分层形成共格状态;所述第一中间层相对于所述组分调制层形成共格状态;其中所述n为2以上的自然数。
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