[发明专利]外延基板以及外延基板的制造方法无效
申请号: | 201180020582.4 | 申请日: | 2011-04-15 |
公开(公告)号: | CN102859653A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 三好实人;角谷茂明;市村干也;前原宗太;田中光浩 | 申请(专利权)人: | 日本碍子株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B29/38;H01L21/338;H01L29/778;H01L29/812 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 | 代理人: | 杨勇;洪玉姬 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种外延基板,其将硅基板作为基底基板,无裂纹且耐电压性优良。其在作为(111)取向的单晶硅的基底基板之上,以使(0001)结晶面与所述基底基板的基板面大致平行的方式形成有III族氮化物层组,其具有:缓冲层,其具备多个第一层叠单位,该第一层叠单位包括:组分调制层,其交替层叠由A1N构成的第一组分层和由AlxGa1-xN(0≤x<1)组分的III族氮化物构成的第二组分层而成;第一中间层,其由AlyGa1-yN(0≤y<1)组分的III族氮化物构成。当将第一组分层和第二组分层的层叠数分别设为n(n为2以上的自然数),且将从基底基板侧开始第i个第二组分层的x值设为x(i)时,如下:x(1)≥x(2)≥···≥x(n-1)≥x(n)且x(1)>x(n),且第二组分层相对于第一组分层呈共格状态,第一中间层相对于组分调制层呈共格状态。 | ||
搜索关键词: | 外延 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种外延基板,在作为(111)取向的单晶硅的基底基板之上,以使(0001)结晶面与所述基底基板的基板面大致平行的方式形成有III族氮化物层组,其特征在于,所述外延基板包括:缓冲层,其具备多个第一层叠单位,结晶层,形成在所述缓冲层上;所述第一层叠单位包括:组分调制层,其通过交替层叠由AlN构成的第一组分层和由AlxGa1‑xN组分的III族氮化物构成的第二组分层而构成,其中x满足0≤x<1,第一中间层,其由AlyGa1‑yN组分的III族氮化物构成,其中y满足0≤y<1;各所述组分调制层中,当将所述第一组分层和所述第二组分层的层叠数分别设为n,且将从所述基底基板侧开始的第i个所述第二组分层的x值设为x(i)时,以x(1)≥x(2)≥···≥x(n‑1)≥x(n)且,x(1)>x(n)的方式形成,且在各所述组分调制层中,各所述第二组分层相对于所述第一组分层形成共格状态;所述第一中间层相对于所述组分调制层形成共格状态;其中所述n为2以上的自然数。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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