[发明专利]用以确定物质的原子序数的、高能量X射线的基于光谱学的检查系统和方法有效
| 申请号： | 201180020812.7 | 申请日： | 2011-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN102884422A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | J.本达汉;C.M.布朗;T.高赞尼;W.G.J.兰格韦德;J.D.史蒂文森 | 申请（专利权）人： | 拉皮斯坎系统股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/10 | 分类号： | G01N23/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张丽新 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请公开了用X射线扫描来识别被扫描物体的物质组成的系统和方法。该系统包括至少一个X射线源，用于将X射线束投射在该物体上，其中投射的X射线束的至少部分透射穿过该物体，以及该系统包括用于测量透射的X射线的能量谱的检测器阵列。该测量的能量谱被用于确定物体的原子序数以识别该物体的物质组成。该X射线扫描系统还可具有准直的高能量后向散射的X射线检测器阵列，用于测量被物体以大于90度的角度散射的X射线的能量谱，其中测量的能量谱和透射能量谱一起用于确定物体的原子序数以识别该物体的物质组成。 | ||
| 搜索关键词： | 用以 确定 物质 原子序数 高能量 射线 基于 光谱 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于识别被扫描的物体的物质组成的X射线扫描系统，包括：a.至少一个X射线源，用于将X射线束投射在物体上，至少一部分投射的X射线束透射穿过物体；b.至少一个检测器阵列，用于测量透射的X射线的能量谱；以及c.处理器，用于识别所述物体的物质组成，其中所述处理器使用所述谱来确定物质组成。
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