[发明专利]精确地比对与配准用于DNA测序的阵列的方法及系统有效
| 申请号： | 201180021839.8 | 申请日： | 2011-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN103025927A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 布赖恩·P·斯泰克 | 申请（专利权）人： | 考利达基因组股份有限公司 |
| 主分类号： | C40B20/02 | 分类号： | C40B20/02;C40B40/06 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;洪欣 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在基因组测序系统与方法中，提供工具以精确和准确地比对与配准用于光学分析的纳米球的平面阵列图像。通过使用最小化技术与Moiré求平均数校正亚期x-y偏移、比例与旋转中误差。在Moiré求平均数中，设置放大率从而使得成像元素的像素周期为位点周期的非整数倍数。通过提供预定义的假随机位点组实现精确的配准，其中防止纳米球粘附至基质从而使得阵列的位点可以用在匹配方案的模式中，作为用于绝对位置鉴定的配准标记。可以高度置信地提取与已知位置相关的信息，而同时使可包装在芯片上的信息量最大化。 | ||
| 搜索关键词： | 精确 用于 dna 阵列 方法 系统 | ||
【主权项】：
方法，其包括：制备用于成像的基质，以建立基质上生化位点的位置与配准；检测图像中基质上对应于生化位点的域点；比对二维栅格与基质上生物位点的域点以确定栅格偏移；以及配准所述栅格点与域中已知的位置，所述配准步骤包括将域点与基质上第一已知域点删除模式互相关以确定域中绝对位置。
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