[发明专利]等离激元传感器及其使用方法和制造方法有效

专利信息
申请号: 201180023132.0 申请日: 2011-05-09
公开(公告)号: CN102884415A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 田村昌也;加贺田博司;冈弘章;福岛奖 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种等离激元传感器及其使用方法和制造方法。等离激元传感器包括第1金属层和第2金属层。第1金属层具有下表面和构成为被供给电磁波的上表面。第2金属层具有与第1金属层的下表面对置的上表面。在第1金属层与第2金属层之间设置构成为被含有介质的试样填充的中空区域。在第1金属层的下方和第2金属层的上方中的至少一方物理吸附有多个分析物捕获体。
搜索关键词: 离激元 传感器 及其 使用方法 制造 方法
【主权项】:
一种等离激元传感器,具备:第1金属层,其具有构成为被供给电磁波的上表面和下表面;和第2金属层,其具有与上述第1金属层的上述下表面对置的上表面,在上述第1金属层与上述第2金属层之间设置构成为被含有介质的试样填充的中空区域,在上述第1金属层的下方和上述第2金属层的上方中的至少一方物理吸附了多个分析物捕获体。
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