[发明专利]局限工艺空间的PECVD腔室无效
申请号: | 201180023388.1 | 申请日: | 2011-05-06 |
公开(公告)号: | CN102884610A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | R·萨卡拉克利施纳;G·巴拉苏布拉马尼恩;J·C·罗查-阿尔瓦雷斯;D·R·杜鲍斯;M·A·福多尔;周建华;A·班塞尔;M·阿优伯;S·沙克;P·赖利;D·帕德希;T·诺瓦克 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供用于等离子体处理衬底的设备。所述设备包括处理腔室、设于处理腔室内的衬底支撑件、设于处理腔室内且在衬底支撑件下方的屏蔽构件、以及耦合至处理腔室的盖组件。所述盖组件包括耦合至功率源的导电气体分配器、以及电极,所述电极通过电气绝缘体与导电气体分配器和腔室主体隔开。电极还耦合至电功率源。衬底支撑件制作成具有容许偏离平行甚微的刚性。屏蔽构件热屏蔽腔室主体下部中的衬底传送开口。泵送气室位于衬底支撑件处理位置下方,且从所述衬底支撑件处理位置隔开。 | ||
搜索关键词: | 局限 工艺 空间 pecvd | ||
【主权项】:
一种用于处理半导体衬底的设备,所述设备包括:处理腔室,所述处理腔室具有带有衬底传送开口的腔室主体;衬底支撑件,所述衬底支撑件设于所述处理腔室内,并限定所述处理腔室的上部和所述处理腔室的下部;盖组件,所述盖组件包括耦合至射频(RF)功率的导电气体分配器和与所述导电气体分配器隔绝的供电电极;以及屏蔽构件,所述屏蔽构件设于所述处理腔室的所述下部,所述屏蔽构件能通过所述屏蔽构件的在所述处理腔室外的延伸部而在所述处理腔室内定位。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造