[发明专利]测量用光学系统以及使用其的亮度计、色彩亮度计以及色彩计有效
申请号: | 201180023902.1 | 申请日: | 2011-03-15 |
公开(公告)号: | CN102893138A | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 鹤谷克敏 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡美能达精密光学仪器株式会社 |
主分类号: | G01J3/51 | 分类号: | G01J3/51;G01M11/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李洋;杨林森 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在本发明所涉及的测量探头(40)中,测量光在经由干涉膜滤光器(13A、14A、15A)由受光传感器(13B、14B、15B)接收之前,被入射到单线光纤(13C、14C、15C)。而且,干涉膜滤光器(13A、14A、15A)被形成为,根据相对于向该干涉膜滤光器(13A、14A、15A)入射的入射光的入射角度的强度分布的条件,得到与测量参数对应的透过率特性。由此,本发明的测量探头(40)使用干涉膜滤光器(13A、14A、15A),并且能够降低因其入射角度带来的透过率特性的偏差的影响。 | ||
搜索关键词: | 测量 用光 系统 以及 使用 亮度计 色彩 | ||
【主权项】:
一种测量用光学系统,在该测量用光学系统中用物镜光学系统接收来自被测量物的光束,进而利用干涉膜滤光器以规定的透过率特性使所述光束透过后,入射到求取所述光束的强度的传感器,其特征在于,所述测量用光学系统还具有存在于所述物镜光学系统和干涉膜滤光器之间的单线光纤,所述干涉膜滤光器形成为,根据相对于向该干涉膜滤光器入射的入射光的入射角度的强度分布的条件,得到与测量参数对应的透过率特性。
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