[发明专利]存储设备测试系统内的阻尼振动有效
| 申请号： | 201180029951.6 | 申请日： | 2011-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN102947886A | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 彼得·马蒂诺 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B33/08 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 戚传江;穆德骏 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种包括壳体的存储设备测试槽。所述壳体限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室。一个或多个调谐质量阻尼器连接到所述壳体。所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 设备 测试 系统 阻尼 振动 | ||
【主权项】：
一种存储设备测试槽，包括：壳体，其限定用于接纳要进行测试的存储设备的测试室；以及连接到所述壳体的一个或多个调谐质量阻尼器，所述一个或多个调谐质量阻尼器被构造为抑制所述壳体以一种或多种预定频率振动。
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