[发明专利]用于提高颗粒成像设备中的测量准确度的装置、系统和方法有效
| 申请号： | 201180031245.5 | 申请日： | 2011-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN103003660A | 公开（公告）日： | 2013-03-27 |
| 发明（设计）人： | W·D·罗斯;M·S·费希尔 | 申请（专利权）人： | 卢米尼克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01N21/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 毛力 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于提高成像细胞计量中的测量准确度的装置、系统和方法。该系统可包括光检测器，该光检测器被配置成测量第一颗粒发出的光和第二颗粒发出的光，其中测得的来自第二颗粒的光在交迭区域中至少部分地交迭测得的来自第一颗粒的光。此外，该系统可包括耦合至光检测器的处理器，其中该处理器被配置成确定该交迭区域中来自第一颗粒的光的贡献，并确定该交迭区域中来自第二颗粒的光的贡献。该处理器还可被配置成从来自第一颗粒的光的贡献中减去来自第二颗粒的光的贡献，并确定第一颗粒发出的光的强度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提高 颗粒 成像 设备 中的 测量 准确度 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于提高颗粒测量设备中的测量准确度的方法，包括：测量第一颗粒发出的光；测量第二颗粒发出的光，其中测得的来自第二颗粒的光在交迭区域中至少部分地交迭测得的来自第一颗粒的光；确定所述交迭区域中来自所述第一颗粒的光的贡献；确定所述交迭区域中来自所述第二颗粒的光的贡献；从来自所述第一颗粒的光的贡献中减去来自所述第二颗粒的光的贡献；以及确定所述第一颗粒发出的光的强度。
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