[发明专利]气体分析装置、汞除去系统、气体分析方法及废气中的汞除去方法有效

专利信息
申请号: 201180031530.7 申请日: 2011-09-22
公开(公告)号: CN102959386A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 香川晴治;千代丸胜;鹈饲展行;冈本卓也;村上盛纪 申请(专利权)人: 三菱重工业株式会社
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223;B01D53/64;B01D53/86;G01N1/22
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 雒运朴
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的气体分析装置(10)包括:从传送含有NH4Cl、SO3这双方的废气11的烟道(12)抽出废气(11A)的废气抽出管(13);设置于废气抽出管(13),并将抽出的废气(11A)中含有的烟尘除去的捕集器(14);设置于废气抽出管(13),并使废气(11A)中含有的NH4Cl、SO3这双方析出的过滤筒(15);以及检测对借助过滤筒(15)所析出的含有NH4Cl、SO3这双方的试料照射X线而产生的荧光X线,来测定废气(11A)中含有的NH4Cl、SO3这双方的测定装置(19)。
搜索关键词: 气体 分析 装置 除去 系统 方法 废气 中的
【主权项】:
一种气体分析装置,其特征在于,包括:将从锅炉排出且供给氯化铵的废气从烟道抽出的废气抽出管;设置于所述废气抽出管,并将抽出的废气中含有的烟尘除去的烟尘除去机构;设置于所述废气抽出管,并使所述废气中含有的氯化铵析出的析出机构;以及检测对借助所述析出机构所析出的氯化铵照射X线或激光束而产生的荧光X线,来测定废气中含有的氯化铵的测定机构。
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