[发明专利]制备用于结合的表面的氧等离子体转化方法无效
申请号: | 201180032626.5 | 申请日: | 2011-06-28 |
公开(公告)号: | CN103038863A | 公开(公告)日: | 2013-04-10 |
发明(设计)人: | 庄大可;A·尤森科 | 申请(专利权)人: | 康宁股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/762 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 项丹 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于制备半导体晶片材料的表面的方法,所述表面不可与另一种基材,例如半导体或者玻璃基材发生结合,通过用氧等离子体对晶片表面进行处理氧化表面,使得其更光滑、亲水性并可与另一种基材结合。可任选地用酸剥除经过转化的氧化物层,从而去除晶片表面上的污染物。经过剥除的表面可以进行第二氧等离子体处理使得表面更光滑,使得表面具有亲水性并可与另一种基材的表面结合。半导体晶片上可以具有由阻隔材料,例如SixNy或者SiNxOy形成的阻隔层,所述阻隔材料不可与另一种基材结合。 | ||
搜索关键词: | 制备 用于 结合 表面 等离子体 转化 方法 | ||
【主权项】:
一种对半导体晶片的不可结合表面进行制备的方法,使得所述不可结合表面与另一种基材进行结合,该方法包括以下步骤:得到具有结合表面的半导体晶片,所述结合表面不能与另一种基材发生结合;用氧等离子体对半导体晶片的结合表面进行处理,对所述半导体晶片的结合表面进行氧化,并将半导体晶片的表面区域转化为氧化物层,所述氧化物层是亲水性且可以与另一种基材结合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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