[发明专利]无铅半导体密封用玻璃在审
申请号: | 201180032805.9 | 申请日: | 2011-06-17 |
公开(公告)号: | CN102958860A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 桥本幸市 | 申请(专利权)人: | 日本电气硝子株式会社 |
主分类号: | C03C3/068 | 分类号: | C03C3/068;C03C3/095;H01L23/29;H01L23/31;H01L33/52 |
代理公司: | 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 | 代理人: | 陈波;朱弋 |
地址: | 日本滋贺*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的技术课题在于,开创了一种易于实现外观检查自动化、且澄清性和半导体元件的封装性优异的无铅半导体密封用玻璃。本发明的无铅半导体密封用玻璃的粘度为106dPa·s时的温度在670℃以下,作为玻璃组成,CeO2的含量为0.01~6质量%,且Sb2O3的含量在0.1质量%以下。 | ||
搜索关键词: | 半导体 密封 玻璃 | ||
【主权项】:
一种无铅半导体密封用玻璃,其特征在于,所述无铅半导体密封用玻璃的粘度为106dPa·s时的温度在670℃以下,作为玻璃组成,CeO2的含量为0.01~6质量%,且Sb2O3的含量在0.1质量%以下。
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