[发明专利]用于确定计算机X线摄影中的探测器的空间响应标记图的方法有效
申请号: | 201180034870.5 | 申请日: | 2011-06-27 |
公开(公告)号: | CN102970931A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | M.克雷森斯;H.范高伯根 | 申请(专利权)人: | 爱克发医疗保健公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;G01T1/29 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 马丽娜;王忠忠 |
地址: | 比利时*** | 国省代码: | 比利时;BE |
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摘要: | 一种用于通过下述来确定包括可光激励的磷光体的x射线探测器的空间响应标记图的方法:生成探测器的平场图像,生成所述平场图像的低通滤波型式,以及通过将平场图像按照像素方式除以低通滤波型式中的对应像素值而对所述平场图像进行背景解调。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 计算机 摄影 中的 探测器 空间 响应 标记 方法 | ||
【主权项】:
用于通过下述来确定包括可光激励的磷光体的二维x射线探测器的空间响应标记图的方法:‑ 通过使所述探测器均匀地暴露于辐射,并对所述均匀暴露的探测器进行扫描,以及通过使扫描的图像数字化而生成平场图像,‑ 生成所述平场图像的低通滤波型式,‑ 利用所述低通滤波型式中的对应像素值对所述平场图像解调,其特征在于‑ 所述标记图是通过处理针对同一探测器生成的多个平场图像而获得的,并且‑ 通过应用空间翘曲使所述多个平场图像空间配准,由此选择用于所述空间翘曲的参考平场图像,使得通过扫描所述参考平场图像以及所述多个平场图像中的任何其他图像而获得的像素矩阵之间的最大角差最小。
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