[发明专利]用于确定颗粒和/或细胞分散体的迁移率的全息波动显微装置和方法无效
申请号: | 201180036514.7 | 申请日: | 2011-05-25 |
公开(公告)号: | CN103025886A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 阿克基尔·奥斯曼 | 申请(专利权)人: | 阿尔利克斯公司 |
主分类号: | C12Q1/00 | 分类号: | C12Q1/00 |
代理公司: | 北京金思港知识产权代理有限公司 11349 | 代理人: | 邵毓琴 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及实现如下测量和检验方法的仪器、测量装置和方法:所述测量和检验方法以快速且有效的方式,根据所检测到的细胞/颗粒的群体的迁移率来表征细胞/颗粒的群体或检测细胞/颗粒的亚群。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 颗粒 细胞 散体 迁移率 全息 波动 显微 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种确定多个颗粒与样品保持器的表面之间的相互作用的方法,所述方法包括:使用物理力施加机构,将物理力施加至所述样品保持器上的至少一个颗粒样品,或者施加至所述样品保持器的所述表面;使用具有带视场的显微镜的成像装置的照射源照射所述颗粒;使用所述成像装置通过采集所述视场中的所述颗粒的图像序列来测量所述颗粒对所述物理力施加机构的反应,所述图像的所述采集与所述物理力施加机构同步;使用计算机系统的处理器对所述颗粒的由所述成像装置捕获的所述图像进行统计分析;其中,所述图像包括由所述颗粒衍射的第一分量和不被所述颗粒衍射的第二分量,并且所述两个分量在成像平面中干涉,从而获得由所述处理器产生的干涉图案,所述干涉图案由颗粒强度波动值表示颗粒;并且其中,通过扩散或者所述物理力施加机构中的一种能够移动的所述颗粒显示高强度波动,而结合至所述样品保持器的所述表面的那些颗粒显示低强度波动,从而获得所述样品保持器的所述表面上的所述相互作用的性质。
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