[发明专利]包括具有增强的分析和调试能力的可编程逻辑分析仪的集成电路及方法有效

专利信息
申请号: 201180040112.4 申请日: 2011-09-08
公开(公告)号: CN103069289A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 詹姆斯·雷·贝利;克里斯托弗·威尔逊·凯斯;詹姆斯·帕特里克·夏普 申请(专利权)人: 利盟国际有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 周靖;郑霞
地址: 美国肯*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种包括具有增强的分析和调试能力的逻辑分析仪的集成电路及其方法。在一种实施方式中,集成电路包括逻辑分析仪,其具有接收多个信号的第一输入端和用于提供对于逻辑分析仪对至少一个触发事件的检测的指示的输出端;以及内置自测试块,其具有用于接收出现在逻辑分析仪的第一输入端的信号中的一个或多个的第一输入端、耦合到逻辑分析仪的输出端用于选择性地启用BIST块的第二输入端,BIST块基于其第一和第二输入端生成并保持签名。
搜索关键词: 包括 具有 增强 分析 调试 能力 可编程 逻辑 集成电路 方法
【主权项】:
一种装置,包括:集成电路,其包括:逻辑分析仪,其具有接收多个信号的第一输入端和用于提供对于由所述逻辑分析仪对至少一个触发事件的检测的指示的输出端;以及内置自测试BIST块,其具有用于接收出现在所述逻辑分析仪的所述第一输入端的信号中的一个或多个的第一输入端、耦合到所述逻辑分析仪的所述输出端以选择性地启用所述BIST块的第二输入端,所述BIST块基于其所述第一输入端和所述第二输入端生成并保持签名。
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