[发明专利]包括品质度量的双模态成像有效
| 申请号： | 201180041016.1 | 申请日： | 2011-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN103069456B | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | A·达席尔瓦;H·海因斯;L·邵;H·梁;A·埃克斯纳;A·格迪克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T11/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 针对对象采集解剖学图像数据集和发射图像数据集。从所述解剖学图像数据集生成衰减映射图。重建所述发射图像数据集以生成发射图像。所述重建包括使用衰减映射图校正对象中的发射辐射衰减。计算对所述衰减映射图和所述发射图像的对准进行量化品质保证（QA）度量的值。将所述发射图像与所计算的品质保证度量一起显示或打印。在一些实施例中，在重建之前，通过执行全局刚性配准并继之以感兴趣区域的局部非刚性配准将所述衰减映射图与所述发射图像数据集配准。 | ||
| 搜索关键词： | 包括 品质 度量 双模 成像 | ||
【主权项】：
一种成像方法，包括：从所采集的对象的解剖学图像数据集生成衰减映射图；重建所采集的所述对象的发射图像数据集以生成发射图像，所述重建包括使用所述衰减映射图校正所述对象中的发射辐射的衰减；计算对所述衰减映射图和所述发射图像的对准进行量化的品质保证度量的值；将所述发射图像和所计算的品质保证度量存储到图像存储器内；在所述存储之后，从所述图像存储器检索所述发射图像的实例和所计算的品质保证度量的实例；以及将所检索的所述发射图像的实例与所检索的所计算的品质保证度量的实例一起显示或打印。
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