[发明专利]非接触供电系统以及非接触供电系统的金属异物检测装置有效
申请号: | 201180041459.0 | 申请日: | 2011-05-20 |
公开(公告)号: | CN103069689A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
发明(设计)人: | 安倍秀明 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H02J17/00 | 分类号: | H02J17/00;H02J7/00 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种非接触供电系统的金属异物检测装置(7),包括:天线线圈(AT2);振荡电路(7a),其使天线线圈中有高频电流流动;以及检测电路(7b),其对在振荡电路和天线线圈的任一个中被观测的电压或者电流的变化进行检测。振荡电路(7a)包括被设定为如下设计值的组成部件:该设计值使振荡电路以从紧接在开始产生振荡后的振荡条件到稳定的持续振荡条件之前为止的范围内的振荡条件来产生振荡。金属异物检测装置(7)利用检测电路(7b),根据由放置在供电装置(1)上的金属异物所导致的天线线圈(AT2)的电气特性的变化,对振荡电路(7a)的振荡的停止或者振荡振幅的衰减进行检测。 | ||
搜索关键词: | 接触 供电系统 以及 金属 异物 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种非接触供电系统,其特征在于,具备:供电装置,其包括初级线圈以及使上述初级线圈中有高频电流流动的高频逆变器;设备,其包括次级线圈,该次级线圈通过由于在上述初级线圈中流动的电流而产生的交变磁场来产生感应电动势,该设备利用在上述次级线圈中产生的电动势对负载提供电力;以及金属异物检测装置,其包括:天线线圈;振荡电路,其使上述天线线圈中有高频电流流动;以及检测电路,其对在上述振荡电路和上述天线线圈的任一个中被观测的电压或者电流的变化进行检测,其中,上述振荡电路包括具有如下设计值的组成部件:该设计值使上述振荡电路在紧接在该振荡电路中开始产生振荡后的振荡条件到稳定的持续振荡条件之前为止的范围内的振荡条件下产生振荡,上述金属异物检测装置利用上述检测电路,根据由放置在上述供电装置上的金属异物所导致的上述天线线圈的电气特性的变化,对上述振荡电路的振荡的停止或者振荡振幅的衰减进行检测,来控制上述供电装置。
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