[发明专利]检测目标物质的方法以及用于所述方法中的适体组、传感器和装置无效

专利信息
申请号: 201180042446.5 申请日: 2011-06-17
公开(公告)号: CN103108952A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 田光公康 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: C12N15/09 分类号: C12N15/09;C12M1/34;C12N15/115;C12Q1/68;G01N33/53
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 陈海涛;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种检测目标物质的方法,包括:准备复合物(4),其包含与试验样品中的目标物质(5)特异结合的第一适体(1)和与所述目标物质(5)以外的第二配体(6)特异结合的第二适体(2),其中所述第一适体(1)包含一个以上形成双链的双链形成位点,所述第二适体(2)包含两个以上双链形成位点,与所述目标物质(5)结合的所述第一适体(1)的碱基序列包含所述第一适体(1)的所述双链形成位点的碱基序列的至少一部分,且与所述第二配体(6)结合的所述第二适体(2)的碱基序列包含所述第二适体(2)的所述两个以上双链形成位点的碱基序列的至少一部分;将所述目标物质(5)结合到所述第一适体(1)上;将所述第二配体(6)结合到所述第二适体(2)上;检测所述第一适体(1)的所述双链形成位点的开裂。
搜索关键词: 检测 目标 物质 方法 以及 用于 中的 适体组 传感器 装置
【主权项】:
一种检测目标物质的方法,包括:准备复合物,所述复合物包含与试验样品中的目标物质特异结合的第一适体和与所述目标物质以外的非目标物质特异结合的第二适体,其中所述第一适体包含一个以上形成双链的双链形成位点,所述第二适体包含两个以上双链形成位点,与所述目标物质结合的所述第一适体的碱基序列包含所述第一适体的所述双链形成位点的碱基序列的至少一部分,且与所述非目标物质结合的所述第二适体的碱基序列包含所述第二适体的所述两个以上双链形成位点的碱基序列的至少一部分;将所述目标物质结合到所述第一适体上;将所述非目标物质结合到所述第二适体上;以及检测所述第一适体的所述双链形成位点的开裂。
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