[发明专利]放射线检测器

摘要

提供一种能够进行校正以不受荧光的残光影响而准确地确定γ射线的入射位置的放射线检测器。根据本发明，具备：强度数据获取部(11)，其随时间的经过每隔固定的采样间隔Sa获取由光检测器(3)输出的表示荧光的强度的强度数据(S)；以及校正值获取部(14)，其获取用于校正由荧光的残光引起的强度数据(S)的变动的校正值(A)，累计部(15)利用校正值(A)进行强度数据(S)的校正。通过设为这种结构，能够不受荧光的残光成分的影响而准确地确定荧光的位置。

主权项

一种放射线检测器，其特征在于，具备：(A)闪烁体，其由将放射线转换为荧光的闪烁体晶体排列而成；(B)光检测器，其检测荧光；(C)强度数据获取单元，其随时间的经过每隔固定的采样间隔获取由上述光检测器输出的表示荧光的强度的强度数据；(D)强度数据累积单元，其累积由上述强度数据获取单元获取到的强度数据；(E)存储单元，其存储多个阈值；(F)事件检测单元，其将相继获取的强度数据与强度数据比较用的事件阈值进行比较，当强度数据超过事件阈值时识别出发生了放射线入射到上述闪烁体的事件，并获取发生该事件的时刻即事件发生时刻；(G1)校正值获取单元，其从上述强度数据累积单元读出在上述事件发生时刻之前检测到的强度数据，基于读出的强度数据、双重事件阈值以及多重事件阈值获取校正值，该校正值用于校正由荧光的残光引起的强度数据的变动；以及(H)累计单元，其对在上述事件发生时刻以前和上述事件发生时刻以后检测到的强度数据进行累计，并且利用校正值进行校正来计算出累计值。