[发明专利]测量装置有效

专利信息
申请号: 201180043668.9 申请日: 2011-09-07
公开(公告)号: CN103124903A 公开(公告)日: 2013-05-29
发明(设计)人: 尹永一;李进雨;崔在奎 申请(专利权)人: 喜来健迈德斯
主分类号: G01N33/49 分类号: G01N33/49;G01N21/17
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 韩国忠淸*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种光学测量装置。所述装置包括托盘、芯子支撑部件、光学单元和控制单元。所述托盘通过在主体的预定部分中形成的开口而从所述主体抽出,或者通过朝向在所述主体中提供的光学单元的开口缩进至所述主体中。其中注射有试样的芯子被放置在所述托盘上。在所述芯子已经被放置在托盘上并且所述托盘已经缩进至主体中之后,所述芯子支撑部件将所述芯子固定至相应于光学单元的位置处。所述光学单元将光施加至包含在固定的芯子中的试样,并接收来自于所述试样的光。所述控制单元利用所施加的光和所接收的光来计算试样的测量值。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
一种光学测量装置,包括:托盘,通过在主体的预设部分中形成的开口从所述主体中抽出,或者通过朝向在所述主体中设置的光学单元的开口缩进至所述主体中,其中,其内注射有试样的芯子置于所述托盘上;芯子支撑部件,在所述芯子已经被放置在托盘上并且所述托盘已经缩进至主体中之后,所述芯子支撑部件将所述芯子固定至相应于光学单元的位置处;所述光学单元将光施加至包含在固定的芯子中的试样,并接收来自于所述试样的光;并且控制单元利用所施加的光和所接收的光来计算试样的测量值。
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