[发明专利]测量反应器表面上颗粒积聚的系统与方法有效
| 申请号： | 201180043910.2 | 申请日： | 2011-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN103097015A | 公开（公告）日： | 2013-05-08 |
| 发明（设计）人： | E·J·马克尔 | 申请（专利权）人： | 尤尼威蒂恩技术有限责任公司 |
| 主分类号： | B01J8/24 | 分类号： | B01J8/24;C08F2/34;B01J8/38;G05B1/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 夏正东 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供监控颗粒/流体混合物的系统与方法。该方法可包括使含带电颗粒和流体的混合物流经颗粒积聚探针。该方法也可包括当一些带电颗粒在没有接触探针的情况下流过探针，而其他带电颗粒接触探针时，测量通过探针检测的电信号。可操作测量的电信号，提供输出值。该方法也可包括若接触探针的带电颗粒的电荷平均不同于没有接触探针，但流过探针的带电颗粒，则根据该输出值测定。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 反应器 表面上 颗粒 积聚 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种监控颗粒/流体混合物的方法，该方法包括：使含带电颗粒和流体的混合物流过颗粒积聚探针；当一些带电颗粒在没有接触探针的情况下流过探针，而其他带电颗粒接触探针时，测量通过探针检测的电信号；操作测量的电信号以提供输出值；和从该输出值确定接触探针的带电颗粒的电荷平均地是否不同于没有接触探针，但流过探针的带电颗粒。
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