[发明专利]用于3D内存应用的PECVD氧化物-氮化物以及氧化物-硅堆栈有效
申请号: | 201180044315.0 | 申请日: | 2011-09-28 |
公开(公告)号: | CN103109352A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | N·拉贾戈帕兰;X·韩;J·A·朴;清原敦;朴贤秀;金秉宪 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆勍 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在单一等离子体增强化学气相沉积处理腔室中,将不同材料的层堆栈结构沉积至基板上,同时维持真空。将基板放到处理腔室中,并且第一处理气体用于在基板上形成第一层的第一材料。在第二处理气体用于在基板上形成第二层的第二材料之前,进行等离子体净化及气体净化。重复等离子体净化及气体净化,并且将第一与第二材料的附加层沉积至层堆栈结构上。 | ||
搜索关键词: | 用于 内存 应用 pecvd 氧化物 氮化物 以及 堆栈 | ||
【主权项】:
一种方法,包含:(a)将基板放到等离子体增强化学气相沉积(PECVD)腔室中;(b)将第一处理气体激发成第一等离子体;(c)从所述第一等离子体将一层第一材料沉积至所述基板上;(d)等离子体净化所述PECVD腔室,并且利用所述等离子体净化,露出待调理供沉积用的所述第一材料的表面;(e)气体净化所述PECVD腔室,以移除所有气体污染物;(f)将第二处理气体激发成第二等离子体;(g)从所述第一等离子体将一层第二材料沉积至所述基板上;(h)等离子体净化所述PECVD腔室,并且利用所述等离子体净化,露出待调理供沉积用的所述第二材料的表面;(i)气体净化所述PECVD腔室,以移除气体污染物;(j)在所述步骤(b)至(i)的整个过程中,维持所述PECVD腔室中的真空;以及(k)重复所述步骤(b)至(j),直到在所述基板上已沉积一预定层数的所述第一材料和所述第二材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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