[发明专利]显微镜成像的校准靶无效

专利信息
申请号: 201180046755.X 申请日: 2011-09-29
公开(公告)号: CN103119496A 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: P.C.古德温 申请(专利权)人: 应用精密公司
主分类号: G02B21/34 分类号: G02B21/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 柯广华;朱海煜
地址: 美国华*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 该公开针对光学显微镜校准装置,其可以与光学显微镜一起使用来调节显微镜成像参数使得样品的图像可以在衍射极限以下获得。这些显微镜校准装置包括至少一个校准靶。每个校准靶包括具有显微镜物镜的衍射极限以下的尺寸的多个特征。对特定放大倍率获得校准靶中的一个的单独颜色分量衍射限制的图像。这些颜色分量图像可以被组合并且图像处理来获得校准靶的聚焦并且无畸变的图像。用于获得校准靶的该聚焦并且无畸变的图像的参数可以用于通过使用相同的参数获得对相同放大倍率的样品的聚焦并且无畸变的图像。
搜索关键词: 显微镜 成像 校准
【主权项】:
一种校准装置,包括:至少一个校准靶,其中每个校准靶包括具有小于显微镜物镜的衍射极限的尺寸的多个特征,所述显微镜物镜用于将所述至少一个校准靶的子区成像。
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