[发明专利]包括氧化亚铜半导体并具有改进的P-N异质结的微电子结构在审
申请号: | 201180047569.8 | 申请日: | 2011-09-29 |
公开(公告)号: | CN103189994A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | D·S·达维施;H·A·阿特瓦特 | 申请(专利权)人: | 加利福尼亚技术学院 |
主分类号: | H01L31/0336 | 分类号: | H01L31/0336;H01L31/072;C30B23/04;C30B29/16 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 吴亦华 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了用于制造较高品质p-n异质结的方法,所述p-n异质结掺有氧化亚铜和适于形成所述异质结的另一种材料。当掺入到微电子器件中时,这些改进的异质结预期将提供改进的微电子性质,例如改进的缺陷密度、特别是在所述p-n异质结处的较低界面缺陷密度,产生改进的微电子器件,例如具有改进的开路电压、填充因子、效率、电流密度等的太阳能电池器件。 | ||
搜索关键词: | 包括 氧化亚铜 半导体 具有 改进 异质结 微电子 结构 | ||
【主权项】:
一种方法,所述方法包括如下步骤:a)提供支持物,其中所述支持物的至少一部分包含具有面的模板区;b)在所述模板面上形成定向p‑型半导体区,其中所述p‑型半导体区包含至少含有Cu(I)和氧的组分;c)在等离子体存在下,在所述p‑型半导体区上形成定向n‑型发射极区。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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