[发明专利]用于IR检测系统的杜瓦瓶组件有效
申请号: | 201180049725.4 | 申请日: | 2011-10-11 |
公开(公告)号: | CN103168217A | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 迈克尔·辛格 | 申请(专利权)人: | 半导体器件-埃尔法特系统-拉法合伙公司 |
主分类号: | G01J5/04 | 分类号: | G01J5/04;G01J5/06;G01J5/08;G02B17/06 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 以色列*** | 国省代码: | 以色列;IL |
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摘要: | 提供了一种杜瓦瓶组件,用于在光学IR检测系统中限定一个光收集区域。所述杜瓦瓶组件含有一个温屏蔽体单元,所述温屏蔽体单元被构造成一个封装体,用于光学封装光收集区域并具有一个光学窗,入射光经穿所述光学窗进入所述杜瓦瓶。所述温屏蔽体限定一个反射内表面,该反射内表面被构造成,使得穿过所述光学窗传播到所述内表面上的入射光的光部分被所述内表面反射向所述光收集区域外部的区域。 | ||
搜索关键词: | 用于 ir 检测 系统 杜瓦瓶 组件 | ||
【主权项】:
用在包括IR检测器单元类别的光学IR检测系统中的杜瓦瓶组件,其中所述杜瓦瓶组件包含:一个基底,其含有辐射吸收区域并被安置成用于限定所述杜瓦瓶组件的光收集区域;和一个温屏蔽体单元,其具有一个使入射光穿过其而进入所述杜瓦瓶的光学窗,所述温屏蔽体单元被构造成一个封装体,用于光学封装所述基底,和限定一个反射内表面,所述反射内表面被构造成,使穿过所述光学窗传播到所述内表面上的入射光的光部分被所述内表面向着所述光收集区域外部的区域反射。
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