[发明专利]使用机内自测试的基于调试器的存储器转储有效
| 申请号： | 201180049786.0 | 申请日： | 2011-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN103154906A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 宏·S·金;保罗·F·波利茨基;保罗·道格拉斯·巴塞特 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 宋献涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于执行存储器转储的方法和设备。所述方法包括通过BIST包封器从调试器将存储器位置提供到存储器阵列，且由所述调试器接收从所述存储器阵列中的所述存储器位置读取的数据。所述方法可包括从所述调试器发送转储启用信号，且所述BIST包封器响应于所述转储启用信号而选择性地将所述存储器位置提供到所述存储器阵列。所述方法可包括将所述转储启用信号发送到耦合到所述BIST包封器中的寄存器的多路复用器，所述转储启用信号致使所述多路复用器向所述寄存器加载所述存储器位置。所述方法可包括在从所述存储器位置读取所述数据之前异步地将写入停用信号发送到所述存储器阵列。所述所接收的数据可选自从所述存储器位置读取的较大数据集合。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 测试 基于 调试 存储器 | ||
【主权项】：
一种用于执行存储器转储的方法，其包含：通过BIST包封器从调试器将存储器位置提供到存储器阵列；以及由所述调试器接收从所述存储器阵列中的所述存储器位置读取的数据。
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