[发明专利]光阻材料及硬掩模前驱物的原子层沉积无效
申请号: | 201180051965.8 | 申请日: | 2011-10-06 |
公开(公告)号: | CN103189962A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 蒂莫西·W·韦德曼;蒂莫西·米凯尔松;保罗·迪顿 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/205 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了用于在基板上形成对辐射敏感的光阻的方法。描述了形成薄膜(例如含硅薄膜)光阻的原子层沉积方法。所述工艺可重复多次,以沉积多层硅光阻层。同时揭露了利用含碳底层,例如非晶碳层沉积光阻与在光阻中形成图案的工艺。 | ||
搜索关键词: | 材料 硬掩模 前驱 原子 沉积 | ||
【主权项】:
一种在基板上形成辐射敏感光阻的方法,包括:使一基板相继暴露至第一前驱物与第二前驱物的交替脉冲,该第一前驱物含有具可交联单体的取代基以及一反应物,该反应物选自臭氧、H2O、H2O2、NH3、反应性氧、反应性氮及反应性氢,该第二前驱物含有反应性单体,所述反应性单体与该第一前驱物中的所述取代基是可交联的以形成一沉积层,使得在该沉积层中该第一前驱物与该第二前驱物中的可交联的反应性单体部分保持为未反应的且可溶于显影剂溶液;以及选择性地使部分的该沉积层暴露于辐射以产生一图案,该辐射选自超紫外线、远紫外线、X射线与电子束,在该图案中,该沉积层的暴露部分含有交联的单体,所述交联的单体于该基板上形成一薄膜,该薄膜比该沉积层的未暴露部分的溶解性差。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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