[发明专利]电容测量电路及电容测量方法无效
| 申请号： | 201180052575.2 | 申请日： | 2011-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN103189754A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 李芳远;文炳埈;洪在锡 | 申请（专利权）人： | 艾勒博科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星;郑玉 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电容测量电路及电容测量方法。电容测量电路及电容测量方法中，控制单元与检测信号的电平无关地根据指定的规则产生预定次数的控制代码，当判别为产生的控制代码所对应的检测信号的电平为正常时，变更控制代码而测量电容值。因此，测量出的电容值将几乎不受噪声的影响，能够输出为稳定的值。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 测量 电路 测量方法 | ||
【主权项】：
一种电容测量电路，包括：脉冲信号产生单元，产生具有对应于控制代码的脉冲宽度的脉冲信号；脉冲信号传输单元，具备垫，根据通过所述垫施加的电容而延迟所述脉冲信号而作为延迟脉冲信号输出；脉冲信号检测单元，检测所述延迟脉冲信号而输出检测信号；以及控制单元，根据指定的规则产生多次所述控制代码而施加到所述脉冲信号产生单元，判别所产生的各个所述控制代码所对应的多个所述检测信号，以确定所述控制代码的变更与否。
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