[发明专利]用于检测带状构件的形状的方法和设备及二维位移传感器

摘要

通过二维位移传感器（11）能精确地测量带状轮胎组成构件的表面的位移，而不管带状构件（40）的表面条件如何。二维位移传感器（11）包括：用作发射部件的第一和第二激光器单元（111，112），其发射从与带状构件（40）的厚度方向的交叉的方向入射到带状构件（40）表面的第一激光和从平行于带状构件（40）的厚度方向的方向入射到带状构件（40）表面的第二激光；用作位移测量部件的相机（113），其具有接收反射自带状构件（40）表面的光用的光接收元件并从光接收元件检测的反射光接收位置测量带状构件（40）的表面的位移量；使反射光聚焦于光接收元件用的光学元件（11L）；和使待入射到带状构件（40）的表面的激光在第一激光与第二激光之间切换用的切换部件（13）。

主权项

一种二维位移传感器，其包括：发射部件，该发射部件用于发射从与带状构件的厚度方向交叉的方向入射到所述带状构件的表面的第一激光，以及发射从与所述带状构件的厚度方向平行的方向入射到所述带状构件的表面的第二激光；位移测量部件，该位移测量部件具有光接收元件，所述光接收元件用于接收从所述带状构件的表面反射的反射光，并且用于从由所述光接收元件检测出的反射光接收位置测量所述带状构件的表面的位移量；光学元件，该光学元件用于使所述反射光聚焦于所述光接收元件；和切换部件，该切换部件用于使待入射到所述带状构件的表面的激光在所述第一激光和所述第二激光之间切换。