[发明专利]用于测量粒子射束内的主流自旋矢量的矢量分量的自旋检波器装置有效
| 申请号： | 201180055161.5 | 申请日： | 2011-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN103221836A | 公开（公告）日： | 2013-07-24 |
| 发明（设计）人： | 奥利弗·沙夫 | 申请（专利权）人： | 施佩克斯表面纳米分析股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 北京中安信知识产权代理事务所(普通合伙) 11248 | 代理人： | 张小娟 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种自旋检波器装置，用于检测在具有主流自旋方向粒子的粒子射束（T）内的主流自旋矢量的矢量分量。该自旋检波器装置包括：具有可切换线圈（5）的自旋旋转器（1），其中可切换线圈（5）包括一个轴向方向，且取向设置为，粒子射束（T）沿着轴向方向贯穿可切换线圈（5）；偏转装置（7）连接自旋旋转器（1）的下游，该装置以一偏转角度，静电地偏转粒子射束（T）的轨道；自旋检波器（9）连接导向装置（7）的下游，允许在粒子射束（T）内的主流自旋矢量的矢量分量进行检测，上述矢量分量与粒子射束（T）的运动方向垂直；和与线圈（5）连接的切换单元（15），允许切换线圈（5）的激发态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 粒子 射束内 主流 自旋 矢量 分量 检波器 装置 | ||
【主权项】：
一种自旋检波器装置，用于具有粒子主流自旋取向的粒子射束（T）内主流自旋矢量的矢量分量的检波，该装置包括：具有可切换线圈（5）的自旋旋转器（1），可切换线圈（5）具有一个轴向方向，并被取向设置为：粒子射束（T）沿着轴向方向贯穿可切换线圈（5）；在自旋旋转器（1）下游的偏转装置（7），该装置通过静电将粒子射束（T）的轨道偏转一定的偏转角度；在偏转装置（7）下游的自旋检波器（9），对粒子射束（T）中主流自旋矢量分量的分量矢量进行检测，该分量矢量垂直于粒子射束（T）运动方向；和与可切换线圈（5）连接的切换单元（15），该单元能够切换线圈（5）的励磁状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于施佩克斯表面纳米分析股份有限公司，未经施佩克斯表面纳米分析股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201180055161.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
