[发明专利]量子产率测定装置有效
| 申请号： | 201180057407.2 | 申请日： | 2011-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN103229043A | 公开（公告）日： | 2013-07-31 |
| 发明（设计）人： | 井口和也 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 量子产率测定装置(1)，通过将激发光(L1)照射在用于容纳试料(S)的试料管(2)的试料容纳部(3)，检测自试料(S)及试料容纳部(3)的至少一方所放出的被测定光(L2)，来测定试料(S)的量子产率。量子产率测定装置(1)具有：暗箱(5)，其在内部配置有试料容纳部(3)；光产生部，其具有连接于暗箱(5)的光出射部(7)，并产生激发光(L1)；光检测部，其具有连接于暗箱(5)的光入射部(11)，并检测被测定光(L2)；积分球(14)，其具有使激发光(L1)入射的光入射开口(15)、及使被测定光(L2)出射的光出射开口(16)，且配置于暗箱(5)内；及移动机构(30)，以成为试料容纳部(3)位于积分球(14)内的第1状态、及试料容纳部(3)位于积分球(14)外的第2状态的各自的状态的方式，使积分球(14)在暗箱(5)内移动，在第1状态，使光入射开口(15)与光出射部(7)相对，并使光出射开口(16)与光入射部(11)相对。 | ||
| 搜索关键词： | 量子 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种量子产率测定装置，其特征在于，通过将激发光照射在用于容纳试料的试料管的试料容纳部，检测从所述试料及所述试料容纳部的至少一方所放出的被测定光，来测定所述试料的量子产率，具备：暗箱，在内部配置所述试料容纳部；光产生部，具有连接于所述暗箱的光出射部，并产生所述激发光；光检测部，具有连接于所述暗箱的光入射部，并检测所述被测定光；积分球，具有使所述激发光入射的光入射开口、及使所述被测定光出射的光出射开口，且配置于所述暗箱内；及移动机构，以成为所述试料容纳部位于所述积分球内的第1状态、及所述试料容纳部位于所述积分球外的第2状态的各自的状态的方式，使所述积分球在所述暗箱内移动，在所述第1状态下，使所述光入射开口与所述光出射部相对，并使所述光出射开口与所述光入射部相对。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浜松光子学株式会社，未经浜松光子学株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201180057407.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
