[发明专利]成像设备和对焦位置检测方法有效
申请号: | 201180057649.1 | 申请日: | 2011-11-18 |
公开(公告)号: | CN103238098A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 青木贵嗣 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G02B7/28 | 分类号: | G02B7/28;G02B7/34;G03B13/36;H04N5/232 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 谢晨;刘光明 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的是,无论拍摄对象的状态如何,都实现高速度和高精度的相位差自动聚焦。提供的是一种成像设备,包括控制装置,该控制装置在光接收表面中的相位差检测区域内布置和形成光瞳分割的第一和第二相位差检测像素(x,y),并且基于在像素(x,y)的每一个检测信息之间的相位差来将在图像捕捉元件的前端处的聚焦镜头驱动和控制到焦点位置。该控制装置:基于拍摄对象的状态(例如,是广角还是长焦、是否是脸部检测模式、或是否是夜景模式等等)确定应当将相位差检测区域的分割数目设置成第一分割数目n(包括n=1)还是设置成大于n的第二分割数目m;通过对于通过将相位差检测区域分割成n份或m份而形成的每一个分割区域,算术上找到第一信息与第二信息之间的相关性并且计算分割的区域评估曲线;对于每一个分割的区域的分割的区域评估曲线执行指定的算术处理并且找到总评估曲线;以及从总评估曲线找到用于驱动的散焦量以将聚焦镜头控制到对焦位置。 | ||
搜索关键词: | 成像 设备 对焦 位置 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种图像捕捉设备,包括:图像捕捉元件,其中成对像素二维地布置在相位差检测区域中,所述成对像素的每一个由光瞳分割的第一相位差检测像素和第二相位差检测像素来配置,所述相位差检测区域被设置在捕捉对象的图像的光接收表面上;聚焦镜头,所述聚焦镜头被部署在所述图像捕捉元件的光路的前端处并且在所述光接收表面上形成对焦在所述对象上的光学图像;以及控制装置,所述控制装置计算在从所述第一相位差检测像素输出的关于所述成对像素的一侧布置方向的第一检测信息的第一分布曲线与从所述第二相位差检测像素输出的关于所述一侧布置方向的第二检测信息的第二分布曲线之间的相位差,并且基于所述相位差驱动所述聚焦镜头并将所述聚焦镜头控制到对焦位置,其中所述控制装置包括:装置,用于基于所述图像捕捉设备的设置状态来确定将所述相位差检测区域在垂直于所述相位差的检测方向的方向上被分割成的分割数目设置成第一分割数目n还是大于n的第二分割数目m,装置,用于通过对于通过将所述相位差检测区域分割成所述n份或所述m份而形成的分割的区域中的每一个,计算所述第一检测信息与所述第二检测信息之间的相关性,来为每个分割的区域计算相关运算曲线,以及装置,用于从通过对于所述多个分割的区域的相关运算曲线进行所需的计算处理而获得的总评估曲线获取散焦量,以驱动所述聚焦镜头并且将所述聚焦镜头控制到所述对焦位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201180057649.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种五级分支井密封工具
- 下一篇:多线圈环形分布驱动转子的定子组件