[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 201180058160.6 | 申请日： | 2011-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN103238062A | 公开（公告）日： | 2013-08-07 |
| 发明（设计）人： | 芝正树;安藤学 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N21/82 | 分类号： | G01N21/82;G01N35/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 洪秀川 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种自动分析装置，从光源(14)向装入有测定对象试料与试药并使其反应的反应容器(2)照射测定光，通过夹着反应容器(2)而与光源(14)对置设置的透过光受光器(15A)对来自反应容器(2)的透过光(14a)进行测定，并且通过在反应容器(2)的透过光受光器(15A)侧配置的散射光受光器(15B、15C)对来自反应容器(2)的散射光(14b、14c)进行测定，基于透过光受光器(15B、15C)的检测结果，对由光源(14)照射的测定光的光量进行修正。由此，即便在使用散射光的分析中，也可以修正入射光量，能够抑制入射光量引起的分析结果的装置间差。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种自动分析装置，其特征在于，具备：光源，其向装入有测定对象试料与试药且使它们反应的反应容器照射测定光；透过光受光器，其与所述光源夹着所述反应容器而与所述光源对置设置，并对来自所述反应容器的透过光进行测定；至少一个散射光受光器，其配置在所述反应容器的所述透过光受光器侧，且对来自所述反应容器的散射光进行测定；以及光源光量修正机构，其基于所述透过光受光器的检测结果，对由所述光源照射的测定光的光量进行修正。
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