[发明专利]微晶半导体薄膜制造方法有效
申请号: | 201180058658.2 | 申请日: | 2011-07-12 |
公开(公告)号: | CN103250233A | 公开(公告)日: | 2013-08-14 |
发明(设计)人: | 津田睦;今村谦;滝正和;池田知弘;藤原伸夫 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L31/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李今子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 包括微晶半导体薄膜形成工序,在该微晶半导体薄膜形成工序中,对具备等离子体电极和基板的真空容器内一边连续地供给主成分中包含氢的气体,一边断续地供给至少包含硅或者锗的半导体材料气体,并且与供给所述半导体材料气体的期间和不供给所述半导体材料气体的期间同步地对所述等离子体电极供给不同的高频电力,在所述等离子体电极与所述基板之间的等离子体生成空间中生成等离子体,由此形成微晶半导体薄膜,在所述微晶半导体薄膜形成工序中,对所述半导体材料气体的供给进行接通/关断调制而周期性地供给所述半导体材料气体,将接通所述半导体材料气体的供给时的所述高频电力设为比关断所述半导体材料气体的供给时的所述高频电力小,使所述接通/关断调制的调制频率或者所述接通/关断调制的占空比随着时间的推移而变化。 | ||
搜索关键词: | 半导体 薄膜 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种微晶半导体薄膜制造方法,通过等离子体CVD法制造微晶半导体薄膜,其特征在于,包括微晶半导体薄膜形成工序,在该微晶半导体薄膜形成工序中,对具备等离子体电极和沉积微晶半导体薄膜的基板的真空容器内一边连续地供给主成分中包含氢的气体,一边断续地供给至少包含硅或者锗的半导体材料气体,并且与供给所述半导体材料气体的期间和不供给所述半导体材料气体的期间同步地对所述等离子体电极供给不同的高频电力,在所述等离子体电极与所述基板之间的等离子体生成空间中生成等离子体,由此形成微晶半导体薄膜,在所述微晶半导体薄膜形成工序中,对所述半导体材料气体的供给进行接通/关断调制而周期性地供给所述半导体材料气体,将接通所述半导体材料气体的供给时的所述高频电力设为比关断所述半导体材料气体的供给时的所述高频电力小,使所述接通/关断调制的调制频率或者所述接通/关断调制的占空比随着时间的推移而变化。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造