[发明专利]半导体装置和显示装置有效
申请号: | 201180059369.4 | 申请日: | 2011-12-06 |
公开(公告)号: | CN103262250A | 公开(公告)日: | 2013-08-21 |
发明(设计)人: | 守口正生;神崎庸辅;高西雄大;楠见崇嗣;松木园广志 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;G02F1/1368;H01L21/312;H01L21/336;H01L51/50 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的半导体装置包括:形成在基板(60)上的薄膜晶体管(10)的栅极电极(62)和供氧层(64);形成在栅极电极(62)和供氧层(64)之上的栅极绝缘层(66);形成在栅极绝缘层(66)之上的薄膜晶体管(10)的氧化物半导体层(68);和配置在栅极绝缘层(66)和氧化物半导体层(68)之上的薄膜晶体管(10)的源极电极(70S)和漏极电极(70d)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 显示装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于:其为具有薄膜晶体管的半导体装置,所述半导体装置包括:形成在基板上的所述薄膜晶体管的栅极电极和供氧层;形成在所述栅极电极和所述供氧层之上的栅极绝缘层;形成在所述栅极绝缘层之上的所述薄膜晶体管的氧化物半导体层;和配置在所述栅极绝缘层和所述氧化物半导体层之上的、所述薄膜晶体管的源极电极和漏极电极。
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