[发明专利]光学检测设备及光学检测方法

摘要

本发明涉及一种用于元件（12）的光学检测设备（10），包括第一检测区和第二检测区。该设备具有用于利用光学手段拍摄元件的侧表面的成像设备（22）。该成像设备在第一检测区（Pos.B）中拍摄元件的一个侧表面的图像以及在第二检测区(Pos.C)中拍摄元件的多个侧表面的图像。该检测设备包括元件输送器(14)。元件输送器包括元件夹持设备(16)。该输送器沿着元件路径(20)输送所夹持的元件。元件路径通往第一检测区、从第一检测区通向第二检测区、远离第二检测区。该成像设备包括在第一检测区中对准元件的侧表面的图像拍摄设备（24）以及将第二检测区的元件的多个侧表面的图像合成到图像拍摄设备的图像合成单元（28）。第一图像偏转设备（32）与元件输送器一起运动。该元件输送器沿着元件路径大致连续地输送元件。

主权项

一种用于元件的光学检测设备，其特征在于，该光学检测设备具有第一和第二检测区（POS B、POS C），包括：成像设备（22），用于利用光学手段拍摄元件（12）的侧表面（12a、12b、12c、12d、12e），所述成像设备（22）在所述第一检测区（POS B）中拍摄元件（12）的一个侧表面的图像，并在所述第二检测区（POS C）中拍摄元件（12）的多个侧表面的图像；元件输送器（14），包括用于元件（12）的夹持设备，所述元件输送器（14）沿着元件路径（20）输送所夹持的元件（12）；所述成像设备（22）包括：图像拍摄设备（24），用于在第一检测区（POS B）内对准元件（12）的侧表面（12a）；和图像合成设备（28），用于将第二检测区（POS C）中的元件（12）的多个侧表面（12b、12c、12d、12e）的图像合成到所述图像拍摄设备（24）中；以及所述元件输送器（12）沿着所述元件路径（20）大致连续地输送元件（12）。