[发明专利]光学气体分析仪有效

专利信息
申请号: 201180063937.8 申请日: 2011-11-11
公开(公告)号: CN103492858B 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 米嘉尔·安纳托里维奇·马克斯尤坦科;舍盖依·法西里维奇·涅普尼阿斯奇;苏菲亚·波里苏维纳·波哥迪纳;维亚切斯拉夫·维拉迪米罗维奇·克瑞博托夫 申请(专利权)人: 欧普托圣斯有限公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/03
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 魏小薇
地址: 俄罗斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明有关于量测技术,特别有关于设定用来控制出现于大气中的碳氢化合物装置。一种光学气体分析仪,包含提供红外线辐射路径的一光学气体室 (1)、位于光学气体室 (1)的入口 (3) 的一红外线辐射源 (2)、安装在上述室 (1)的出口 (5) 的一红外线辐射侦测器 (4)、与红外线辐射源 (2) 及红外线辐射侦测器 (4) 耦合的一控制组件 (6),其中将控制组件 (6) 履行为能够改变红外线辐射源 (2) 的运作模式,并处理由侦测器(4)所接收的红外线辐射光及显现所取得结果,其中将光学气体室 (1) 履行为多重穿透及镜射式,能够将自其入口 (3) 处通过穿越至出口 (5) 处的红外线辐射能,集中在红外线辐射侦测器 (4) 上。
搜索关键词: 气体 分析 当中 所用 光学 区块
【主权项】:
一种光学气体分析仪,包括:光学气体室,提供红外线辐射路径;红外线辐射源,位于该光学气体室的入口处;及红外线辐射侦测器,位于上述光学气体室的出口处;控制组件,与该红外线辐射源及该红外线辐射侦测器耦接,其中将该控制组件实现为能更改该红外线辐射源运作模式,并处理该侦测器所接收的红外线辐射,以展示取得的结果,其特征在于该光学气体室被实现为进行多重穿透与反射,并且能够在红外线辐射侦测器处集中从光学气体室的入口一路穿过光学气体室到光学气体室的出口的红外线辐射,其中该红外线辐射侦测器为差动接收装置,该差动接收装置包括量测光压侦测器及参照光压侦测器,上述接收装置包括其入口处的滤波器窗口以及滤镜,该滤镜位于能够根据上述光学气体室中的红外线辐射路径轨迹对测得的气体浓度结果的外部影响进行补偿的位置,而滤波器窗口和滤镜产生的光谱透射及反射特征分别与所量测气体的吸收光谱和该红外线辐射源的辐射光谱有关,其中该红外线辐射源代表发光二极管类型的红外线脉波源,在该光学气体室的入口处产生具方向性的红外线辐射,且其开启/关闭负载比经由该控制组件而与上述接收装置的开启/关闭负载比具有关联性。
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