[发明专利]集成光学相干断层扫描系统有效
| 申请号： | 201180067945.X | 申请日： | 2011-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN103370597A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | D·C·弗朗德斯 | 申请（专利权）人： | 奥克森技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 谭英强 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光学检测器系统包含一密封光电组件、一安装于光电组件内的光学试验台，一安装于光学试验台上的平衡检波系统。平衡检波系统包括至少两个接收干涉信号的光学检测器。一安装于光电组件内的电子放大系统放大至少两个光学检测器的一输出量。同时还公开了一种集成光学相干断层扫描系统。提供了多个实施例，其中放大器（通常为互阻抗放大器）与检测来自于干涉仪的干涉信号的光学检测器紧密集成。还提供有另外的一些实施例，其中干涉仪，优选地还有其检测器，一起集成于一共同的光学试验台上。从而，有很少或没有光纤的系统得以实施。 | ||
| 搜索关键词： | 集成 光学 相干 断层 扫描 系统 | ||
【主权项】：
一种光学相干性分析系统，包括：一干涉仪分束器，用于分离一来自于样本臂和基准臂之间的一光源的源光信号；一第一样本臂偏振分束器，所述源光信号通过所述第一样本臂偏振分束器被传输至一样本，第一样本臂偏振分束器引导从样本返回的源光信号的第一偏振至第一对光学检测器；一第二样本臂偏振分束器，所述源光信号通过所述第二样本臂偏振分束器被传输至样本，第二样本臂偏振分束器引导从样本返回的源光信号的第二偏振至第二对光学检测器；和一非互易样本偏振旋转系统，所述非互易样本偏振旋转系统设置于第一样本臂偏振分束器和第二样本臂偏振分束器之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥克森技术有限公司，未经奥克森技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201180067945.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
