[发明专利]分配测量间隙的方法和基站无效
申请号: | 201180069164.4 | 申请日: | 2011-03-15 |
公开(公告)号: | CN103563431A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | Y.田;D.王;H.朱 | 申请(专利权)人: | 爱立信(中国)通信有限公司 |
主分类号: | H04W24/10 | 分类号: | H04W24/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 杨美灵;汤春龙 |
地址: | 中国北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 无线电基站和其中的方法提供用于分配MGRP内的测量间隙到基站当前在服务的UE,其中,考虑了测量间隙对HARQ过程的影响。相对于多个可能测量间隙在MGRP内的时间起点和持续时间,识别在MGRP内的这些可能测量间隙。为识别的测量间隙确定在MGRP期间相对于识别的测量间隙的时间起点,由于识别的测量间隙而将受影响的HARQ过程的数量。根据在MGRP期间将受影响的HARQ过程的数量,将识别的测量间隙分级,并且基于等级将识别的测量间隙分配到UE。 | ||
搜索关键词: | 分配 测量 间隙 方法 基站 | ||
【主权项】:
一种在基站中用于将测量间隙重复周期MGRP内的测量间隙分配到所述基站当前在服务的用户设备UE的方法,所述方法包括:‑ 相对于多个可能测量间隙在所述MGRP内的时间起点和持续时间,识别(100)在所述MGRP内的所述多个可能测量间隙,‑ 为所述识别的测量间隙确定(120)在所述MGRP期间相对于所述识别的测量间隙的时间起点,由于所述识别的测量间隙而将受影响的混合自动请求重发HARQ过程的数量,‑ 根据在所述MGRP期间将受影响的HARQ过程的数量,将所述识别的测量间隙分级(130),以及‑ 基于所述等级,将所述识别的测量间隙分配(140)到所述UE。
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