[发明专利]SiC单晶的制造方法和制造装置有效
申请号: | 201180069491.X | 申请日: | 2011-07-27 |
公开(公告)号: | CN103562443A | 公开(公告)日: | 2014-02-05 |
发明(设计)人: | 大黑宽典;龟井一人 | 申请(专利权)人: | 丰田自动车株式会社;新日铁住金株式会社 |
主分类号: | C30B29/36 | 分类号: | C30B29/36;C30B19/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 段承恩;杨光军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种SiC单晶的制造方法,一边在石墨坩埚内的Si熔液内维持从内部到熔液面温度降低的温度梯度、一边以接触该熔液面的SiC籽晶为起点使SiC单晶生长,其中,在使成为SiC单晶的生长起点的SiC籽晶的结晶生长面接触上述熔液面时,将熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度设定为从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。一种SiC单晶的制造装置,具有:石墨坩埚;用于将上述坩埚内的原料加热熔化从而形成上述原料熔液并且维持SiC单晶的生长所需的温度梯度的加热单元;在下端保持籽晶的支持棒;和保持机构,其维持上述保持以使得熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度处于从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。 | ||
搜索关键词: | sic 制造 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种SiC单晶的制造方法,使用坩埚内的Si‑C熔液,以接触到该熔液面的SiC籽晶为起点使SiC单晶生长,该制造方法的特征在于,在使成为SiC单晶的生长起点的SiC籽晶的结晶生长面接触所述熔液面时,将熔液向SiC籽晶的侧面的润升高度设定为从结晶生长面生长了的SiC单晶和从侧面生长了的SiC单晶作为一体的SiC单晶而生长的范围内。
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