[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201180072134.9 | 申请日: | 2011-07-05 |
公开(公告)号: | CN103650147A | 公开(公告)日: | 2014-03-19 |
发明(设计)人: | 陈则;中村胜光 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L29/78 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在晶体管区域中设置有绝缘栅型双极晶体管,该绝缘栅型双极晶体管具有栅极电极(7)和发射极电极(9)。在晶体管区域的周围配置有末端区域。在晶体管区域中,在N型漂移层(1)的下方设置有第1N型缓冲层(18)。在第1N型缓冲层(18)的下方设置有P型集电极层(19)。在末端区域中,在N型漂移层(1)的下方设置有第2N型缓冲层(20)。P型集电极层(19)和第2N型缓冲层(20)与集电极电极(21)直接连接。越接近集电极电极(21),第2N型缓冲层(20)的杂质浓度越小。第2N型缓冲层(20)与集电极电极(21)不构成欧姆接触。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具有:晶体管区域,在该晶体管区域中设置有绝缘栅型双极晶体管,该绝缘栅型双极晶体管具有栅极电极和发射极电极;以及末端区域,其配置在所述晶体管区域的周围,在所述晶体管区域中,在N型漂移层的下方设置第1N型缓冲层,在所述第1N型缓冲层的下方设置P型集电极层,在所述末端区域中,在所述N型漂移层的下方设置第2N型缓冲层,所述P型集电极层和所述第2N型缓冲层与集电极电极直接连接,越接近所述集电极电极,所述第2N型缓冲层的杂质浓度越小,所述第2N型缓冲层与所述集电极电极不构成欧姆接触。
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