[发明专利]温度分布测定系统、温度分布测定装置以及温度分布测定方法有效

专利信息
申请号: 201180073111.X 申请日: 2011-08-31
公开(公告)号: CN103782144A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 笠嶋丈夫;宇野和史;石锅稔;只木恭子;武井文雄 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01K11/12 分类号: G01K11/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的目的在于提供能够容易地评价测定温度分布的修正所使用的传递函数的妥当性的温度分布测定系统、温度分布测定装置以及温度分布测定方法。温度分布测定系统具有:光纤(24);激光光源(21),其与光纤(24)光学连接;光检测器(26),其检测在光纤(24)内发生后向散射的光;以及温度分布测定部(27),其对从光检测器(26)的输出获得的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算。实际温度分布测定部(27)获取铺设了光纤(24)的场所的实际温度分布,并对修正后的测定温度分布与实际温度分布的差分进行运算来判定传递函数是否合适。
搜索关键词: 温度 分布 测定 系统 装置 以及 方法
【主权项】:
一种温度分布测定系统,其特征在于,具有:激光光源,其与光纤光学连接;光检测器,其检测在所述光纤内发生后向散射的光;温度分布测定部,其对从所述光检测器的输出获得的测定温度分布进行使用了传递函数的修正计算;以及实际温度分布测定部,其测定铺设了所述光纤的场所的实际温度分布,所述温度分布测定部对修正后的所述测定温度分布与所述实际温度分布的差分进行运算来判定所述传递函数是否合适。
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