[发明专利]插值方法和使用其的预测方法有效

专利信息
申请号: 201180073166.0 申请日: 2011-07-28
公开(公告)号: CN103891289B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 全勇俊;贾杰;全柄文;朴胜煜 申请(专利权)人: LG电子株式会社
主分类号: H04N19/523 分类号: H04N19/523;H04N19/587;H04N19/82
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 代理人: 达小丽,夏凯
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及通过使用当前图片的像素采样和参考图片的像素采样来执行用于在屏幕之间预测的插值的方法、以及使用其的预测方法。按照本发明的插值方法包括计算用于产生预测块的运动信息;以及基于整数采样集产生部分像素采样,整数采样集包括插值滤波器被应用到其的整数像素采样,在这里,整数采样集包括在当前图片的恢复的整数像素采样之中的用于产生部分像素采样的至少一个当前整数采样,以及部分像素采样对应于在整数像素采样之中的离预先确定的参考像素采样的部分像素单位的偏移位置。
搜索关键词: 方法 使用 预测
【主权项】:
一种插值方法,包括步骤:计算用于产生预测的块的运动信息;以及基于整数采样集来产生分数像素采样,所述整数采样集包括插值滤波器被应用到其的整数像素采样,其中,所述整数采样集包括在当前图片的重建的整数像素采样之中的用于产生分数像素采样的至少一个当前整数采样,以及其中,所述分数像素采样对应于在整数像素采样之中的在离预先确定的参考像素采样以分数像素为单位的偏移位置,其中,对亮度像素执行插值方法,以及其中,所述产生分数像素采样的步骤包括根据所述参考像素采样的位置,将预先确定数目的当前整数采样设置为被包括在整数采样集中。
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