[发明专利]基于异质结氧化物的忆阻元件有效
申请号: | 201180074219.0 | 申请日: | 2011-10-21 |
公开(公告)号: | CN103890943A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 杨建华;M·M·张;S·R·威廉姆斯 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 韩宏;陈松涛 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了包括设置在第一电极和第二电极之间的活性区的忆阻元件。活性区包括第一金属氧化物的转换层和第二金属氧化物的导电层,其中第一金属氧化物的金属离子不同于第二氧化物的金属离子。忆阻元件基于在第一金属氧化物和第二金属氧化物之间的氧化物异质结而在低电阻状态下展示出非线性电流-电压特性。还提供了包括忆阻元件的多层结构。 | ||
搜索关键词: | 基于 异质结 氧化物 元件 | ||
【主权项】:
一种忆阻元件,包括:具有纳米级宽度的第一电极;具有纳米级宽度的第二电极;以及设置在所述第一电极和所述第二电极之间并与所述第一电极和所述第二电极电接触的活性区,所述活性区具有第一金属氧化物的转换层和第二金属氧化物的导电层,其中所述第一金属氧化物的金属离子不同于所述第二金属氧化物的金属离子,其中所述第一金属氧化物和所述第二金属氧化物是Al、Si、Ga、Ge、Sr、Ba、Sc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Y、Zr、Nb、Mo、Ru、Rh、Pd、Ag、Cd、La、Hf、Ta、W、Re、Os、Ir、以及Pt中的至少一种的氧化物;并且其中所述忆阻元件基于在所述第一金属氧化物和所述第二金属氧化物之间的氧化物异质结而在低电阻状态下展示出非线性电流‑电压特性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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