[发明专利]基于FPGA的电能质量多指标数据处理模块无效

专利信息
申请号: 201210000961.3 申请日: 2012-01-04
公开(公告)号: CN102565584A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 李国栋;周胜军;王同勋;安哲;刘颖英;罗开信;张树民;郭浩;崔健;刘美静 申请(专利权)人: 天津市电力公司;中国电力科学研究院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 王来佳
地址: 300010*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种基于FPGA的电能质量多指标数据处理模块,其技术特点是:由FPGA芯片构成,控制采样过程,得到的采样数据通过正弦表、两个实部运算乘法器和实部加法器进行实部计算,通过余弦表、两个虚部运算乘法器和虚部加法器进行虚部计算,实部运算加法器和虚部运算加法器的输出端构成一个复数并存放到DPRAM中的DFT结果存储区,该DPRAM的DFT结果存储区和采样数据存储区共同输出到DSP中进行电能质量分析处理。本发明设计合理,在FPGA内部采用并行处理方式,不需要很高的时钟频率就可以完成很大的数据处理量,具有实时性好、速度快等特点,本发明与DSP配合使用,提高了系统的集成化程度,使得高速电能质量数据的处理可以简单方便地实现。
搜索关键词: 基于 fpga 电能 质量 指标 数据处理 模块
【主权项】:
一种基于FPGA的电能质量多指标数据处理模块,其特征在于:由FPGA芯片构成,在该FPGA内设有用于存储采样数据的SRAM存储器、正弦表、余弦表、两个实部运算乘法器、两个虚部运算乘法器、一个实部加法器、一个虚部加法器和DPRAM存储器,SRAM存储器的输出端分别连接到两个实部运算乘法器、两个虚部运算乘法器的一个输入端,同时SRAM存储器的采样数据送入到DPRAM存储器的采样数据存储区,两个实部运算乘法器的另一个输入端分别与正弦表相连接,两个虚部运算乘法器的另一个输入端分别与余弦表相连接,两个实部运算乘法器的输出端与实部加法器相连接,两个虚部运算乘法器的输出端与虚部加法器相连接,实部运算加法器和虚部运算加法器的输出端构成一个复数并存放到DPRAM中的DFT结果存储区,该DPRAM包括两个DFT结果存储区和采样数据存储区,DPRAM中的两个存储区共同输出到DSP中进行电能质量分析处理。
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