[发明专利]一种太赫兹波探测器有效
| 申请号： | 201210003491.6 | 申请日： | 2012-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN102539339A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 刘瑞元;宋小会;王云平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01J5/20 |
| 代理公司： | 北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391 | 代理人： | 范晓斌;康正德 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种太赫兹波探测器，用于探测来自太赫兹波辐射源的太赫兹波，所述太赫兹波探测器包括：衬底；和附着在所述衬底上的超导材料薄膜；其中，所述超导材料薄膜为单条以曲折且紧凑的方式在所述衬底上延伸的长程线条型结构；所述超导材料薄膜在工作过程中处于其超导转变温区内并接受待探测太赫兹波的直接照射，并且通过所述超导材料薄膜吸收太赫兹波的热辐射而使电阻发生显著变化来探测所述太赫兹波。本发明的太赫兹波探测器灵敏度及信噪比高、噪声等效功率低，结构简单、稳定性好；特别适合探测低功率、束斑大的太赫兹波辐射源。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 赫兹 探测器 | ||
【主权项】：
一种太赫兹波探测器，用于探测来自太赫兹波辐射源的太赫兹波，所述太赫兹波探测器包括：衬底；和附着在所述衬底上的超导材料薄膜；其中，所述超导材料薄膜为单条以曲折且紧凑的方式在所述衬底上延伸的长程线条型结构；所述超导材料薄膜在工作过程中处于其超导转变温区内并接受待探测太赫兹波的直接照射，并且通过所述超导材料薄膜吸收太赫兹波的热辐射而使电阻发生显著变化来探测所述太赫兹波。
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